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NAND 闪存 坏块
随着闪存容量的增长，发生存储元损坏的几率也随之提高。如果这些在制造中产生的缺陷如果数量并不很多（在总存储单元中所占的比例低于一定数值），就并不影响闪存的使用，是可以拿出去销售的。这种处理方式，与对硬盘坏道、液晶屏坏点的处理是极为相似的。按照相关规定，一个容量为2Gb的NAND芯片，最多可以允许存在40个坏块。这一规定适用于器件的整个生命周期(额定寿命为10万次编程/擦除周期)。
与硬盘中的坏道一样，闪存中的坏块在出厂之前就已经做出了标志。初始化软件扫描所有区块以确定哪个为坏，然后建一个坏块表供将来参考。这样在使用过程中系统软件会绕开它们。
厂商利用初始化软件将坏块标记固定在空闲区的第一个位置(列地址2048)，如果在0或1页的列地址2048上的数据是“non-FF”，那么，该块要标记为坏。
用户在使用闪存产品时，切不可擦除坏块标记，一旦坏块信息被擦除，就无法再恢复了。
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