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失效分析 T字原则 钟群鹏
2006年，电池事件给索尼公司带来了数亿美元的经济损失。所以现在许多公司都愿聘请一位失效分析工程师（Failure Analysis Enginer，职位名称FAE)来帮助设计人员避免常发生的错误，提醒设计人员注意料想不到的化学的、电的和机械的应力，以及当前的设计怎么会引起已知的各种失效模态，避免将来有可能发生的大规模产品失效和招回。
失效分析工程师受亲睐
不久前，中央电视台《大家》栏目介绍了我国失效分析领域的大家钟群鹏院士，他所创立的“T字原则”可以从失事飞机残害中找到最先产生的裂口，为查找和分析空难发生过程提供了技术依据。
T字原则示意图：在爆炸产生的碎片中，如果有T形裂纹，则“横”早于“竖”爆裂。
钟群鹏，中国工程院院士，北京航空航天大学教授，机械系统失效分析专家，著有《失效分析基础》（机械工业出版社）等著作。
没有可靠性的产品的产品，就是失败的产品；没有可靠性的设计也就是一个失败的设计。看来，搞工程设计的人，应该懂一点失效分析的知识，并且把失效预防和预测作为工程设计中的一个重要任务。
就电脑的可靠性设计问题，本人专门写过一篇文章，发表在《微型计算机》杂志2004年第7期。我会从硬盘把这篇文章找出来，很快就会发到博客里，供大家参考。
［知识链接］
1 世界电子元器件_多层陶瓷电容器的质量控制与失效分析,丁祥金等
2 照明工程师社区_塑封IC常见失效及对策，李双龙，2004-09-19
3 新电子_闪存失效模式分析，姚慧秋/黄其煜，2006-07-14
4 SMT之家_高清晰度X光检查用于改善合格率，Luke C. Kensen ，2003-12-21
5 中国科学院_失效分析与安全发展纵横谈，钟群鹏，光明日报，2004-11-29
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