集成电路测试(1)
1、ATE的印象。
大学毕业的第一个工作，就是做集成电路测试。第一次进入集成电路生产线，第一次接触到轰轰乱叫得ATE，所以ATE留在我记忆中的印象一直是一个巨大的噪音源。
单位的ATE是从国外进口的，据说花了几百万美金，而且当时是对中国禁运的。后来单位负责维修ATE的人跳槽了，没人敢碰这个机器。当时我也是初生牛犊不怕虎，把几本原理图、说明书彻底读了一遍，基本都消化了，才发现其实测试系统并没有那么复杂。以后测试系统出现什么故障，我们都能自己解决了，找到出现故障的器件为止。也是从此开始做了几年测试部门的主管。对测试有了一些感性的认识。不过我一直觉得测试其实技术含量不高，这也是我后来开始从事VLSI设计的原因。但是毕竟近10年的积累，还是对测试技术有一点了解。但是这些年技术还是进步了很多，我的那点知识估计也有点过时了，很想和大家交流交流，提高提高。
2、ATE概述
Ø ATE的含义：
ATE是Auto Test Equipment的简称，主要是来测试集成电路的功能和交直流参数的。一般都可以和prober和Handler相连，这样就可以分别测试wafer或者封装好的package了。ATE有很多的种类，我接触过的主要是测试数字类的测试系统，也使用过模拟电路的测试系统，但说实在话，不太明白。
Ø ATE的指标：
ATE基本都是进口的，也有国产的，但是很简单，只能测试功能和简单的交直流参数。ATE重要的指标主要包括测试通道数量（可以测试多少管脚），测试频率，测试码存储容量，还有就是测试精度（时间、电流、电压）。
Ø 主要厂家：
比较有名的ATE厂家有Teradyne(泰瑞达),Agilent(安捷伦),Advantest(爱德万), Schlumberger，Credence，横河电机等。这其中，我使用过后3家的测试系统。
Ø 数字类ATE种类：（模拟类ATE不太了解）
根据所测VLSI的种类的不同，一般分为：
SoC test system-----------测试各种类型数字电路
Memory Test System----专门测试存储器
也有一些简单的测试系统，主要目的是为了分析故障，这样的测试系统很多不能直接连接探针台或机械手。
（准备写的内容）
3、测试系统的构成
4、测试程序的编制
5、DFT技术
6、存储器的测试技术
7、FPGA的测试技术
8、HardCopy方法
系统分类:
测试测量 | 用户分类:
| 来源:
原创