硬件在环测试（Hardware in the Loop, HIL），是指将真的控制器连接仿真的被控对象（用实时仿真硬件来模拟），以一种高效、低成本的方式对控制器进行全面测试。乘着智能汽车的风口，HIL被业界所熟知。更早以前，HIL测试主要用于航空航天行业，随着医疗、消费电子行业越来越多使用嵌入式软件，HIL测试逐渐在这些行业普及开来。
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杨德丽
陈真义
李晖
王辉
朱峻辉
幸石云
NI成立于1976年，是一家专注于测试测量领域的科技公司，在上世纪90年代以“虚拟仪器技术”的全新概念开启了测试测量领域“软件定义"的时代，40多年以来，NI不断致力于开发基于软件的测试测量与自动化平台，助力工程师和科学家们解决全球最严峻的难题，获得数以百倍的效率提升；进入移动互联时代，NI从贯穿技术与产品生命周期的测试测量数据入手，结合强大的软件能力，构建更完整的企业级数据链，成为不同行业、不同应用的技术联结者和创新驱动者。
深耕中国23年，NI开放的软件平台和丰富的硬件资源在中国也形成了完整的科技生态，广泛应用于下一代通信、半导体、商业航空航天、交通、能源、医疗、消费电子、工业电子等领域，推动中国科技创新、数字化转型及能源可持续发展。
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