多功能芯片由单入单出单通道升级为多入多出多通道收发芯片，并大量应用于现代通信领域。针对多收发通道多功能芯片测试过程中，多次移动探针、重复压针、无法自动测量、测试效率低等不足，研究了多端口在片校准技术。
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