半导体材料研究和器件测试通常要测量样本的电阻率和霍尔电压。半导体材料的电阻率主要取决于体掺杂，在器件中，电阻率会影响电容、串联电阻和阈值电压。霍尔电压测量用来推导半导体类型(n还是p)、自由载流子密度和迁移率。

为了最大程度地降低电流采样电阻器引起的效率损耗和功率损耗，其电阻通常限制为毫欧级，所得IR电压为毫伏级，并且所产生的小信号可能会持续存在，需要从带有数十伏或数百伏的电源轨的共模当中提取出，并且有大噪声分量存在。这些设计挑战在许多创新拓扑和专用器件的开发中都有所反映。本文从另一个角度解决了这个经典问题。

随着电子技术的进步，高性能低成本的器件层出不穷，使得制作一部低档的6.5位数字多用表成为了可能，这里介绍这款六位版，就是在性能上、功能上和成本上综合考虑的一种设计实现方案。

2019年测试测量行业跟随产业发展而动，迎来了5G商用启动、IoT的迅速发展，也经历着全球贸易、行业发展的波折，整个电子行业在探求更多创新和发展，特别是在垂直应用领域的发力。

对于各种各样的产品，制造过程需要高度精确和可靠的温度测量技术。通常通过与传感器直接接触来测量温度，例如通过将传感器浸入到液体中或通过与机器的表面接触来测量温度。

设备的复杂程度提升、寻找突破以降低测试成本以及加快产品上市这三点之间完全互相矛盾。在制造流程中，网络设备制造商面对的最大挑战就是如何同时解决这些问题来获得5G竞争优势。

对于要求高精度和高分辨率的数控可变直流电压源来说，脉宽调制(PWM)是可使用的最佳转换方法。PWM方法已广泛用于开关电源，尤其是对于直流校准器，它可以实现26位分辨率和0.2ppm的线性度。

数据采集系统和数字万用表需要低噪声电源，以便提供高分辨率ADC信号链的性能，而不被开关电源产生的纹波噪声所影响。

在半导体产业链上，有两个非常重要的行业，但是无论是行业统计，还是会议峰会，往往都会把他们忽略，这两个行业是：半导体测试、半导体基板。

本文探讨了4201-SMU和4211-SMU可以进行稳定的弱电流测量的多种应用实例，包括测试：平板显示器上的OLED像素器件、长电缆MOSFET传递特点、通过开关矩阵连接的FET、卡盘上的纳米FET I-V测量、电容器泄漏测量。

多数嵌入式系统都采用多总线结构，为了观察这些系统，调试和检验工具必须能够显示多条总线的活动，以及传感器、促动器、显示器和接口信号。挑战在于不仅要查看多条总线，而且每条总线都要求不同的信令传送方法，因此需要不同的探测方法。某些总线可以使用单端测量观察，其他总线则要求差分测量。为了查看多条总线，您可能要利用数字逻辑通道，大大扩展通道数量。

当采用ADC来进行测试时，一开始非常顺利，但后来，却突然得到一些奇怪的FFT结果。这究竟是怎么回事呢？