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一块小闪存芯片,可导致整个特斯拉电动车瘫痪

时间:2019-11-28 作者:Cabe Atwell 阅读:
特斯拉旧款Model S、X使用的eMMC Flash芯片据传存在严重的耗损隐患,最终可能导致无法为此EV充电,让你的特斯拉在半路瘫痪…

根据几名特斯拉(Tesla)的专业维修人员指出,在旧款Model S、Model X电动车(EV)中所使用的嵌入式NAND eMMC内存持续耗损,最终将导致车载显示器异常。此外,由于闪存(Flash)损坏,驾驶人将无法再使用车辆的某些功能,包括空调控制、自动驾驶以及照明控制等。技术上来看,车主虽然仍然可以驾驶受影响的EV,但却无法为其充电,造成车辆无法正常使用。

嵌入式eMMC芯片的问题在于它们被用于定期更新特斯拉的车辆记录,而随着时间的流逝,可用的储存空间变得越来越少,因而开始在旧的数据上覆写。但这些持续不断的更新比起正常使用更快耗损Flash,最终导致整个损坏。

这个问题从今年5月以来即广受关注,当时,特斯拉维修专家Rich Benoit在YouTube视讯中就此事访与另一名特斯拉维修专家Phil Sadow进行访谈。Phil在视讯中说:「特斯拉确实存在这样的问题。在其控制触控显示器的单元上,搭载着一颗称为eMMC的芯片,它基本上是一个固态硬盘(SSD),就像用于储存的Flash内存,或是在您手中的Android手机中也内建了相同的芯片。这颗eMMC芯片在车子上记录大量的日志(log),但由于快速且大量地写入这颗芯片,导致它逐渐耗损最终崩坏。」

根据InsideEV于10月发表的一篇文章,从3位来自不同地点的特斯拉维修专家回报,eMMC的问题日益严重——包括北卡罗来纳州057 Technology的Jason Hughes、魁北克Cotran Consulting的Robert Cotran,以及亚利桑纳州Gruber Motors的Pete Gruber,都经历了在MCUv1媒体控制单元(Media Control Unit)上的相同问题。

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特斯拉旧款Model S/X EV采用的嵌入式eMMC Flash内存由于持续更新日志,最终可能完全损坏,导致无法充电等各种问题。(来源:Tesla)

当为了在EV中增加更多功能而导入新的韧体升级时,问题就变得更加复杂了——更多的功能进一步加剧了eMMC的耗损。一开始,韧体并不是问题,数据的记录也有足够的内存来处理工作负载;但是,每一次的韧体更新都带来了新功能,让储存空间越来越少。任何形式的Flash (eMMC、NAND或NOR)都有其额定的读写周期(编程/擦除周期)次数限制,大多数商业产品大约都有100,000次可靠的读写周期。

在2018年以前的特斯拉Model S和Model X车款采用的MCUv1单元中,搭载的是Nvidia Tegra Arm-based SoC以及8Gb容量的eMMC内存(据称是Hynix H26M42001FMR),并整合于主板上的同一块电路板。过去4年来,特斯拉的韧体大小从微不足道的300Mb增加到完整的1Gb,几乎耗尽了Flash中大多数的储存空间。加上不断更新的车辆日志记录,这些eMMC的损坏率正呈指数级增加。

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特斯拉EV上的一颗内存芯片问题,可能让你得花大钱维修了!(来源:InsideEV)

韧体其实就是在与数据日志争夺储存空间,而当这种情况发生时,Flash控制器就会启动一种称为耗损均衡(wear-leveling)技术的机制,将写入作业分散到整颗芯片,而不是完全在独立的区域中执行。其目是在内存开始退化之前延长其写入周期次数。特斯拉的韧体耗尽了将近100%的可用空间,因此几乎不可能再对车辆日志使用耗损平衡机制。

当eMMC发生故障时,如果仍处于保固期内,特斯拉将会更换整块MCU电路板,如果超过保固期,则由车主自行负担更换费用,这笔费用包括零件更换和人员服务,在特斯拉原厂服务中心大约高达1,800美元。但这还不只是钱的问题,由于大多数特斯拉服务中心的旧款车型零件库存有限,而独立的特斯拉专业维修车厂通常必须依靠报废车辆取得零件。

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特斯拉维修专家Jason Hughes在Tweeter上向Elon Musk提出了eMMC耗损问题,但Elon回复说,「目前应该不严重了。」(来源:Jason Hughes via Twitter)

Hughes在今年十月的一则推文(Tweet)中谈到了这一事实:「过去一个月以来,我已经为遭遇eMMC Flash损坏的客户修复/更换十几个Tesla MCUv1单元了。@elonmusk,您真的得要求工程师尽快处理这个问题。事实上,它正在大规模地扼杀这些单元。」无论这是广泛发生的问题或只是几次个别的意外,至今究竟有多少特斯拉Model S和Model X的车主遭遇到这个问题,目前并不得而知。特斯拉尚未就此事发表公开声明,不过,该公司执行长马斯克(Elon Musk)确实曾经回复Hughes的推文问题说:「目前应该没那么严重了。」

在InsideEV的这篇文章还提到,这个问题确实发生在2018年以前采用MCUv1的Model S/X车款中,但其后更新所采用的MCUv2也可能有此顾虑。

(原文发表于ASPENCORE旗下EDN姐妹EETimes,参考链接:Burned-Out Flash Trips Up Older Teslas,编译:Susan Hong)

 

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Cabe Atwell
机械工程师/EE Times资深博主。Cabe Atwell是一名居住在芝加哥地区的电气工程师。
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